주요실험장비
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제목

원자력현미경(Atomic Force Microscope)

• 물질의 표면관찰 및 Electrostatic potential 측정

자외선분광광도계(Uv-Vis Spectrophotometer)

• 분광영역 : 190 nm~1100 nm • 물질의 반사도, 투과도 및 흡수도를 측정하여 광학적 특성 분석

진공증착기(Small Vacuum Coater)

• Ultimate Pressure : 5×10-6 Torr • Thickness monitor 장착 • 전극 제작 및 반사율 조절을 위해 금속 등을 증착하는 장비

저온유지장치(Cryogenic System)

● Minimum Temperature : 8K ● Heater Output : 25 W ● 시료의 온도를 극저온 상태로 유지시키기 위한 장비

He-Cd 레이저(He-Cd laser)

- Wavelength : 325 nm - Power : 7 mW - Spectral bandwidth : 3 GHz - 물질의 여기(excitation) 및 각종 실험의 광원

단색광장치(Monochromator)

• Focal length : 0.75 m • Spectral range : 0-15000 Å • Grating : 1200 G/mm • Resolution : 0.1 Å • 단색광 제작, 광 검출

초순수제조기(Water Purification system)

• 생산수 resistivity : 18.2 ㏁·㎝ • 실험실내 기구세척이나 반도체의 세정에 필요한 물의 생산

적외선분광기(FT-IR)

• Spectrum range : 400~4000 cm-1 • Multi-bounce HATR Kit • Variable Angle Specular Kit • 물질의 물리적, 화학적 구조에 대한 분석

주사형현미경(Optical Microscope)

• 배율 : 최대 ×5537배 • 자동카메라, 컬러 비디오카메라 장착 • 물질의 표면관찰

압전용접기(Condenser Spot Welding Machine)

• 비철금속, 이종금속간의 용접

광검출기(Photo-Detector)

• Focal length : 0.30 m • Spectral range : 0-15000 Å • Grating : 150, 600, 1200 G/mm • Resolution : 0.1 Å • 미세광 검출 및 스펙트럼 분석

아르곤 레이저(Ar-Ion Laser)

• Wavelengths : 457.9~514.5 nm • Maximum Power : 3 W • Configurations : multi, single-line • 물질의 여기(excitation) 및 다중 파장을 요하는 실험의 광원

잠금증폭기(Lock-In Amp.)

• Frequency : 1 mHz~1 MHz • GPIB, RS232 Interfaces • 미세신호의 증폭, 신호에서의 노이즈 제거, 주기적인 신호의 cutting

디지털오실로스코프(Digital Storage Oscilloscope)

• Bandwidth : 20 MHz • Max Sample Rate : 100 MS/s • 전압 파형을 시간적으로 나타내어 측정

연대측정장치(Automated Riso)

• Filter : Schott GG-420 • Detecting Filter : Hoya U-340 • 시료에서의 루미네선스를 측정하여 시료의 연대를 결정